電子元件集成度與精細化程度越來越高，自AOI(automatically optical inspection)自動光學檢查機問世以來，AOI自動光學檢查技術飛速發(fā)展。

　　迅鐳激光第三代AOI晶粒檢測機針對GPP二極管、GPP可控硅、TVS等晶圓的生產各工序的過程檢測，可實現4inch、5inch晶圓的各種缺陷檢測，并自動生成MAP，可對接客戶MES系統(tǒng)。

　　GPP芯片檢測，賦能品控，為芯片制造保駕護航!

　　迅鐳激光第三代AOI晶粒檢測機采用多個高分辨率、高幀率工業(yè)相機對被檢測物體進行實時拍攝，利用亞像素級高精度算法檢測，精準實現產品正反面缺陷檢測。

　　設備檢測速度最高可達2200pcs/min。設備采用進口高精度振動盤精準送料，可實現穩(wěn)定快速精準的分揀。高精度伺服轉臺和高透光玻璃轉盤，確保檢測的穩(wěn)定性。

　　高效半導體芯片檢測，讓缺陷無所遁形!

　　實現對夾持治具上的待測產品進行直線式掃描檢測，克服了傳統(tǒng)AOI檢測裝置的檢測范圍限制，可以更加全面精確地對產品的表面進行檢測，檢測精度高，檢測效果好。

　　基于矢量分析算法規(guī)則，融合邏輯或運算，深度學習等三十多種先進檢測算法，自主AI檢測算法，可同時檢測產品的為外觀缺陷及產品尺寸測量，應對各種復雜線路以及半導體零件檢測。

　　AOI晶粒檢測機通過對芯片進行缺陷檢測，在進入后續(xù)工序前予以剔除，能夠提高產品良率，是半導體芯片質量保證的堅實基礎。