時(shí)間分辨熒光光譜（TRPL）是光譜物理的重要內(nèi)容，目前常用的手段有如時(shí)間關(guān)聯(lián)的單光子計(jì)數(shù)（TCSPC）及條紋相機(jī)等。其中TCSPC是通過雪崩光電二極管（APD）進(jìn)行探測的，靈敏度高，可以捕獲單個(gè)光子，相比于條紋相機(jī)能夠?qū)崿F(xiàn)低熒光強(qiáng)度的測量。但由APD組建的TCSPC設(shè)備在時(shí)間分辨率上不如條紋相機(jī)，條紋相機(jī)依靠條紋管可以實(shí)現(xiàn)<1ps至10ps的半寬分辨，而TCSPC的時(shí)間分辨大多在ns量級。因此，如果要測量ns級的熒光壽命，就必須考慮儀器響應(yīng)函數(shù)（IRF）的影響。

儀器采集的數(shù)據(jù)實(shí)際上是真實(shí)數(shù)據(jù)與IRF的卷積，那么從采集數(shù)據(jù)逆推出真實(shí)數(shù)據(jù)可以有兩種方法，首先是直接去卷積（deconvolution），在origin里可以使用X-Function “deconv”進(jìn)行去卷積。以origin默認(rèn)目錄 .\Samples\Curve Fitting\FitConv.dat 示例數(shù)據(jù)為例，導(dǎo)入數(shù)據(jù)，

在origin的命令行窗口輸入

即可實(shí)現(xiàn)去卷積，但效果不好，而且有些時(shí)候得不到解。

這時(shí)就需要用到另一種方法，猜測真實(shí)函數(shù)，將真實(shí)函數(shù)與IRF卷積，得到的結(jié)果與采集數(shù)據(jù)擬合。因?yàn)榫矸e是某種混合過程，比去卷積這種分離元素的過程要容易且穩(wěn)定，所以如果能夠猜到真實(shí)函數(shù)的線型，使用這種方法是非常方便的。而瞬態(tài)熒光壽命函數(shù)恰恰是已知的衰減指數(shù)函數(shù)形式，因此能夠利用這種方法。

方法的教程詳見 Help Online - Tutorials - Fitting with Convolution (www.originlab.com/doc/en/Tutorials/Fitting-Convolution)，方法很簡單，新建一個(gè)擬合函數(shù)，函數(shù)模式選擇origin C，參數(shù)輸入y0, A, t，點(diǎn)擊按鈕黏貼教程下方的代碼即可。

在使用前還需要修改Fitted Curves選項(xiàng)中的X Data Type為Same as Input Data，并且X軸、采集數(shù)據(jù)和IRF要分別放在A、B、C三列上。之后就可以擬合需要的測量數(shù)據(jù)了。

如果真實(shí)函數(shù)是雙指數(shù)函數(shù)或其他形式，修改代碼中的

一行即可。