MCU公司測試遇到的問題

測試項目自動化、半自動化占比低，重復(fù)性工作占用大量人;

MCU產(chǎn)品線型號多，外設(shè)模塊多，測試系統(tǒng)需要統(tǒng)一的管理;

部分測試項目沒有完備的方法，需要定制的軟硬件方案和服務(wù);

測試數(shù)據(jù)的收集、分析和合規(guī)評審，缺少標準、易用的工具。

MCU芯片自動化測試系統(tǒng)ATECLOUD

測試產(chǎn)品：芯片半導(dǎo)體器件。納米軟件ATECLOUD-IC芯片自動化測試系統(tǒng)適用于二極管、三極管、絕緣柵型場效應(yīng)管、結(jié)型場效應(yīng)管、單向和雙向可控硅、普通和高速光耦、整流橋、共陰共陽二極管及多陣列器件等各類半導(dǎo)體分立器件綜合性能自動化測試。

被測項目：溫度測試、耐電壓測試、引腳可靠性測試、ESD抗干擾測試、運行測試、X射線侵入測試等。

測試場景：研發(fā)測試、產(chǎn)線測試、老化測試、一測二測等。支持MCU、Analog IC、ADC、HIC、IGPT及分立器件全方位測試。

MCU測試分布架構(gòu)

ATECLOUD-MCU芯片測試優(yōu)勢：

ns級高精度同步測試;

人性化操作界面，可快速理解、快速上手;

無代碼快速搭建測試工步，靈活調(diào)整可快速擴展;

支持多工位高速并行測試;

高效支持表征、功能評估和批量生產(chǎn)評估;

已兼容2000+儀器型號，包含是德、泰克、R&S普源、鼎陽、艾德克斯等廠家，支持設(shè)備持續(xù)擴展;

具備數(shù)據(jù)洞察及大數(shù)據(jù)分析功能，為科研生產(chǎn)提供數(shù)據(jù)支撐;

適用于研發(fā)/中試/生產(chǎn)芯片全生命周期的應(yīng)用。