蔡司三坐標測針不注意這三點，會導致嚴重測量誤差

蔡司三坐標測針雖小，但卻是三坐標測量機的重要組成部分，其通過測頭端部接觸待測工件，執(zhí)行高精度測量。

質(zhì)量低劣的探頭會嚴重影響測量精度。這會導致嚴重的測量誤差，從而增加廢品率。使用高質(zhì)量蔡司三坐標測針可有效解決這個問題。

測頭和測針系統(tǒng)的設計及質(zhì)量對接觸測量結(jié)果具有決定性影響。蔡司測針產(chǎn)品系列包含從紅寶石到金剛石球形測針、盤形測針以及星形測針等7,000余種測針，提供質(zhì)量優(yōu)良的完整測針系統(tǒng)。

我們裸眼很難識別，但在顯微鏡下，通常會有明顯不同。測量測頭的質(zhì)量主要體現(xiàn)在表面光潔度和接頭設計。另外，質(zhì)量也是決定一款測針能否長期保持精確測量結(jié)果的重要因素， 而出色的測針剛度、測針原件的幾何精度及測球的最大圓度也是檢驗質(zhì)量的要素。蔡司憑借嚴格的制造工藝，促使測針具有有口皆碑的品質(zhì)。

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2/檢測測針，防止磨損影響測量結(jié)果

即使高質(zhì)量的測針也是消耗品，必須定期檢查。這是防止測量結(jié)果不準確的唯一方式。 因為從長期來看，測針元件磨損和材料脫落是無法避免的。但是，由于蔡司Diamond!Scan測針采用耐用材料，可大大延長該過程。

如果對測針的磨損情況不太確定，則應定期更換測針，以確保始終保持高精度的測量結(jié)果。尤其當測針發(fā)生碰撞或掉落在地時，更要及時更換。

蔡司三坐標靈恩建議：您可通過顯微鏡和強光源（>1,000）自行檢查測針，并按需更換。我們建議使用10到40倍的放大倍率檢查2-8毫米直徑的測頭。要測量小于1毫米的測針原件，應使用40-80倍放大倍率，才能很好地檢測材料的磨損情況。

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根據(jù)工件材料和測頭端部不同，測頭端部材料聚積不可避免。因此，必須定期檢查和清潔測針，以減少材料聚積，防止測量不準確。對于軟工件表面（如：鋁），材料聚積問題更嚴重。在這種情況下，蔡司Diamond!Scan測針是良好的選擇，因為該測針采用金剛石測球，更大限度地減少了材料聚積。

蔡司三坐標靈恩建議：使用蔡司清潔濕巾以更小的壓力清潔測針。這種濕巾同樣適用于清潔半球盤和校準球。對于頑固性污漬，可將測針放入適當?shù)那鍧嵰褐薪萜?，然后使用蔡司超細纖維布擦干，有助于清除污漬。

另外，為避免其他污染，在每次開始測量前，必須確保工件表面、導軌和工件夾具清潔。

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