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SSD高低溫循環(huán)老化試驗(yàn)柜的試驗(yàn)要求

2023-11-17 11:24 作者:東莞環(huán)儀儀器  | 我要投稿

編輯 | 環(huán)儀儀器

SSD在生產(chǎn)過程中,需要在高溫、低溫條件下進(jìn)行可靠性測試,測試狀態(tài)既包括斷電狀態(tài),也包括通電下最高讀取速率的工作狀態(tài),測試過程需要用到高低溫SSD老化柜。

SSD高低溫老化過程:

試驗(yàn)設(shè)備:環(huán)儀儀器 高低溫SSD老化柜

試驗(yàn)依據(jù):YD/T 3824-2021 面向互聯(lián)網(wǎng)應(yīng)用的固態(tài)硬盤測試規(guī)范

注意事項(xiàng):由于從低溫到高溫轉(zhuǎn)換過程中,會(huì)有大量結(jié)霜變成水珠,水珠會(huì)導(dǎo)致芯片管腳直接的短路,導(dǎo)致SSD被燒毀,因此,被測試固態(tài)硬盤必須要做加固及防水處理。

前言:在YD/T 3824-2021標(biāo)準(zhǔn)的要求,固態(tài)硬盤的高低溫試驗(yàn)范圍在-40~80℃,工業(yè)級(jí)溫度標(biāo)準(zhǔn)為-40℃~ +85℃。

以下試驗(yàn)溫度要求則為-50~90℃,試驗(yàn)要求比標(biāo)準(zhǔn)要求高。不同廠商的測試要求可以根據(jù)自身產(chǎn)品定位來變化。

測試流程:

1、在斷電的狀態(tài)下,先將溫度下降到-50℃,保持4個(gè)小時(shí);

請(qǐng)勿在通電的狀態(tài)下進(jìn)行低溫測試,非常重要,因?yàn)橥姞顟B(tài)下,芯片本身就會(huì)產(chǎn)生+20℃以上溫度,所以,在通電狀態(tài)下,通常比較容易通過低溫測試,必須先將其“凍透”,再次通電進(jìn)行測試。

2、開機(jī),對(duì)SSD進(jìn)行讀寫性能測試,對(duì)比性能與常溫相比是否正常。

3、進(jìn)行老化測試,觀察是否有數(shù)據(jù)對(duì)比錯(cuò)誤。

4、進(jìn)行掉電測試,具體方法參考:

5、升溫到+90℃,保持4個(gè)小時(shí),與低溫測試相反,升溫過程不斷電,保持芯片內(nèi)部的溫度一直處于高溫狀態(tài),4個(gè)小時(shí)后,執(zhí)行2、3、4測試步驟。

6、高溫和低溫測試分別重復(fù)10次。

如果測試過程出現(xiàn)任何一次不能正常工作的狀態(tài),則視為測試失敗。

市場上,通常有人使用商業(yè)級(jí)溫度產(chǎn)品進(jìn)行篩選后做工業(yè)級(jí)使用,這種方法具備一定的潛在風(fēng)險(xiǎn),篩選的產(chǎn)品在幾次溫度循環(huán)中出現(xiàn)故障概率極大,另外,嚴(yán)格的寬溫通常無法通過,還有可能本次測試通過,下次測試無法通過。

以上就是高低溫SSD老化柜的測試應(yīng)用,如有固態(tài)硬盤的其他測試疑問,可以訪問“環(huán)儀儀器”官網(wǎng),咨詢相關(guān)技術(shù)人員。


SSD高低溫循環(huán)老化試驗(yàn)柜的試驗(yàn)要求的評(píng)論 (共 條)

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