SEM掃描電鏡EVO應(yīng)用案例之金屬行業(yè)-友碩
2023-06-09 10:35 作者:蔡司一級代理昆山友碩 | 我要投稿
今天蔡司代理昆山友碩小編給大家?guī)?strong>蔡司鎢燈絲掃描電鏡EVO鋼和其它金屬的應(yīng)用案例:

典型任務(wù)與應(yīng)用
■結(jié)構(gòu)的成像和分析,金屬樣品和夾雜物的化學(xué)特性與晶體結(jié)構(gòu)
■相、顆粒度、焊點和失效分析

蔡司EVO的優(yōu)點
使用EVO性能出眾的背散射電子(BSE)探測器獲取鐵素體鋼、奧氏體鋼、馬氏體鋼或二聯(lián)鋼和高級合金的清晰組分與晶體信息。
充分利用易操作的樣品室門和穩(wěn)固耐用的樣品臺來加裝拉力試驗機、納米壓痕儀和加熱模塊,以實現(xiàn)金屬樣品的精細表征。
EVO出色的EDS幾何設(shè)計可用于完成高作業(yè)量、高精度的X射線分析。此外,其靈活的端口配置能為EBSD創(chuàng)建共面幾何結(jié)構(gòu),用以進行晶界、相識別及應(yīng)變與滑移系統(tǒng)活動的微觀結(jié)構(gòu)表征。
出色的光束穩(wěn)定性可用于在大面積樣品上進行長時間EDS和EBSD采集,以確保始終如一地提供可靠且可重復(fù)的結(jié)果。更多蔡司電鏡請ZX昆山友碩▼