1.黑盒測(cè)試和白盒測(cè)試比較

黑盒測(cè)試過(guò)程中不用考慮內(nèi)部邏輯結(jié)構(gòu)，僅僅需要驗(yàn)證軟件外部功能是否符合用戶實(shí)際需求。黑盒測(cè)試可以發(fā)現(xiàn)以下缺陷：

(1)外部邏輯功能缺陷，如界面顯示信息錯(cuò)誤等。

(2)兼容性錯(cuò)誤，如系統(tǒng)版本支持、運(yùn)行環(huán)境等。

(3)性能問(wèn)題，如運(yùn)行速度、響應(yīng)時(shí)間等。

白盒測(cè)試與黑盒測(cè)試不同，白盒測(cè)試可以設(shè)計(jì)測(cè)試用例盡可能覆蓋程序中的分支語(yǔ)句，分析程序內(nèi)部結(jié)構(gòu)。白盒測(cè)試常用于以下幾種情況：

(1)源程序中含有多個(gè)分支，在設(shè)計(jì)測(cè)試用例時(shí)要盡可能覆蓋所有分支，提高測(cè)試覆蓋率。

(2)內(nèi)存泄漏檢查迅速，黑盒測(cè)試只能在程序長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行中發(fā)現(xiàn)內(nèi)存泄漏問(wèn)題，而白盒測(cè)試能立即發(fā)現(xiàn)內(nèi)存泄漏問(wèn)題。

2.測(cè)試階段

黑盒測(cè)試與白盒測(cè)試在不同的測(cè)試階段使用情況也不同，兩者在不同階段的使用情況如表3-9所示。
表3-9黑盒測(cè)試和白盒測(cè)試不同階段的使用情況

從表3-9中可以看出各個(gè)階段使用的測(cè)試方法不同，在測(cè)試過(guò)程中，黑盒測(cè)試與白盒測(cè)試結(jié)合使用會(huì)大大提升軟件測(cè)試質(zhì)量。