AFM的優(yōu)點和缺點
2022-10-18 16:23 作者:sousepad材料檢測 | 我要投稿

在了解了AFM的原理以及應(yīng)用范圍后,很多同學在材料表征時,面對多種多樣的電鏡測試,不知道選擇什么比較好,那么下面就是鑠思百小編整理了關(guān)于AFM的優(yōu)點以及確定,好讓同學們知道自己的需求應(yīng)該選擇什么樣的項目。
相對于掃描電子顯微鏡,原子力顯微鏡具有許多優(yōu)點。不同于電子顯微鏡只能提供二維圖像,AFM提供真正的三維表面圖。同時,AFM不需要對樣品的任何特殊處理,如鍍銅或碳,這種處理對樣品會造成不可逆轉(zhuǎn)的傷害。第三,電子顯微鏡需要運行在高真空條件下,原子力顯微鏡在常壓下甚至在液體環(huán)境下都可以良好工作。這樣可以用來研究生物宏觀分子,甚至活的生物組織。原子力顯微鏡與掃描隧道顯微鏡(Scanning Tunneling Microscope)相比,由于能觀測非導電樣品,因此具有更為廣泛的適用性。當前在科學研究和工業(yè)界廣泛使用的掃描力顯微鏡,其基礎(chǔ)就是原子力顯微鏡。


SEM STM TEM相比,AFM的缺點是,成像慢,范圍小,而且受探針的影響較大。
總結(jié):以上就是有關(guān)AFM 的優(yōu)點以及缺點的部分概括,如果需要測試,應(yīng)該結(jié)合自己的測試目的來判斷選擇的電鏡類別,如果有不懂的地方,都可以咨詢鑠思百檢測,我們擁有先進的檢測設(shè)備和專業(yè)的檢測技術(shù)團隊,能夠幫助您全方位的分析、解決各類問題


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